新品便携式电阻率用来测量硅晶块、晶片的电阻率及扩散
便携式电阻率测试仪是用来测量硅晶块、晶片的电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定*。
它主要由电器测量份（主机）及四探针头组成，需要时可加配测试架。
为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及电阻率。样品测试电流由精度的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分选材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω·cm标准样片的测量误差不过±3%，在此范围内达到家标准.
（1）测量范围：
可测方块电阻： 0.1～1999Ω/口
当被测材料电阻率≥200Ω·cm数字表显示0.00。
（2）恒流源：
输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档
1mA量程：0.1～1mA 连续可调
10mA量程：1mA ～10mA连续可调
恒流精度：各档均优于±0.1%
（1） 直流数字电压表
测量范围：0～199.9mv
灵敏度：100μv
准确度：0.2%（±2个字）
（2） 供电电源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 率8W
（3） 使用环境： 相对湿度≤80%
（4） 重量、体积
重量：2.2 公斤
体积：宽210×100×深240（mm）