数字集成电路测试仪 型号：H18105该机系引外大散件组装而成的**化测试议器，能方便快捷地测试40脚以内的TTL、CMOS、RAM、EOROM、EEPROM、光耦、LED、单片机及微机外围电路；具有好坏判别，型号判别、老化、代换查询、破译及编程等多种能编程电压 1.25V、21V、26V编程速度 9档适应电源 AC 220V±10% 50HZ±4%视在能 15VA作环境 5℃-45℃外型尺寸 387×260×109mm重 量 约2.5Kg