频LCR数字电桥/频数字电桥 型号：HA-TH2826A
性能点 ■ 内台符合LXI标准的LCR表 ■ 测试频率20Hz～5MHz，10mHz步 ■ 测试电平10mV～5V, 1mv步 ■ 基本准确度0.1% ■ *达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率 ■ 可测量22种阻抗参数组合 ■ 四种信号源输出阻抗 ■ 10点列表扫描测试能 ■ 内自带直流偏置源 ■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件) ■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)能 ■ V、I测试信号电平监视能 ■ 图形扫描分析能 ■ 20组内仪器设定可供储存/读取 ■ 内建器,10档分选及计数能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用 ■ 2m/4m测试电缆扩展(选件) ■ 中英文可选操作界面 简要介绍 ■TH2826系列元件测试仪是内台符合LXI标准的新 代阻抗测试仪器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz 的频率范围可以满足元件与材料大分低压参数的测量 要求，可广泛应用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷 电容器、液晶显示器、变容二管、变压器等行诸多电 气性能的分析及低ESR电容器和Q电感器的测量。 ■TH2826系列产品速的测试速度使其别适用于 自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等 等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家 的不同标准需求。 ■TH2826系列产品以其越的性能可以实现商业标准和军 用标准如IEC和MIL标准的各种测试。 广泛的测量对象 无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、 芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。 半导体元件：变容二管的C-VDC性；晶体管或集成电路 的寄生参数分析 其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻 抗评估 介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估 磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗 角评估 半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V性 液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V性 TH2826/TH2826A 术参数 测试参数C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR 测试频率 TH2826 20 Hz～5MHz,10mH步 TH2826A 20 Hz～2MHz,10mH步 测试信号电 平 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV） f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV) 输出阻抗10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω 基本准确度0.1% 显示范围 L 0.0001 uH ～ 9.9999kH C 0.0001 pF ～ 9.9999F R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S D 0.0001 ～ 9.9999 Q 0.0001 ～ 99999 θ -179.99°～ 179.99° 测量速度快速: 200次/s（f﹥30KHz）,100次/s（f﹥1KHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s 校准能开路 / 短路点频、频清零，负载校准 等效方式串联方式, 并联方式 量程方式自动, 保持 显示方式直读, Δ, Δ% 触发方式内, 手动, 外, 总线 内直流偏 置源 电压模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步 电流模式（内 阻为50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步 器能10档分选及计数能 显示器320×240点阵图形LCD显示 存储器可保存20组仪器设定值 接口 USBDEVICE( USBTMC and USBCDC support) USBHOST(FAT16 and FAT32 support) LAN(LXI class C support) RS232C HANDLER GPIB（选件）