低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪 型号;KDK-KDY-1
仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 （2）范围：电阻率10-5～10+3欧姆·厘米，分辨率为10-5欧姆·厘米 方块电阻10-4～10+4欧姆/□，*小分辨率为10-4欧姆/□ （3）可测量材料：半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等 可准确测量的半导体尺寸：直径≥20㎜
可测量的半导体尺寸：直径≥8㎜ （4）测量方式：平面测量。 （5）电压表：双数字电压表，可同时观察电流、电压变化 A.量程0~19.999 mV B.基本误差±(0.004%读数+0.01%满度) C.灵敏度：1uV D输入阻抗﹥1000MΩ E 4 1/2位数字显示，0～19999 （6）恒流源： A.电流输出：直流电流0.003～100 mA连续可调，有交流电源供给 B.量程：10uA，100uA，1 mA，10 mA，100 mA五档
C.恒流源精度：各档均≤±0.05% （7）四探针测试探头 A.探头间距1.59㎜ B.探针机械游率：±0.3% C.探针直径0.8㎜ D.探针材料：碳化钨，探针间及探针与其他分之间的缘电阻大于109欧姆。 （8）测试架：（选配） 手动测试架：KDJ-1A 型手动测试架探头上下由手动操作，可以用作断面单晶棒和硅片测试，探针头可上下移动距离：120mm，测试台面200x200(mm)。 （9）精度 电器精度：1-1000欧姆≤0.3 % 整机测量精度：1-100欧姆·厘米≤3% （10）电流：220V±10%，50HZ，率消耗﹤35W
注：如果测金属粉末电阻率把样品压成块或片才能测 北京恒奥德仪器仪表有限公司 联系人:经理 手机：15811023934/18911282105 电话：010-51655247/ 51760337 传真：010-51717271 旺旺： hadgs、had200911 邮箱：hadgs6688@163.com QQ: 1530300049、1832389236、1733477181、1739421560、2272048995 地址：北京市海淀区阜成路42号院12号A-303